IGBT双脉冲测试原理

2026-09-14 20:21:07

　　开通特性测试采用双脉冲测试法。由计算机设定并控制输出漏极电压VDD值到被测器件的测试要求值（一般为被测器件额定电压的1/2），设定VGS到测试要求值，计算机控制接通开关S1,并控制输出被 测双脉冲触发信号，开通和关断被测器件两次，被测器件第一次开通后，漏极电流ID上升，直至被测器件饱和导通且ID达到测试规定值时，关断被测器件(设为t1时刻)，之后电感L经二极管（Q1内部二极 管）续流，ID迅速减小，直至ID降为零时，第二次开通被测器件(设为t2时刻)，此后电感L中的电流向ID转移，ID迅速上升(若L足够大，t1～t2间隔足够短，L中的电流可视为恒流），直至被测器件再次达 到饱和导通时(设为t3时刻)，关断被测器件。记录下被测器件ID、VDS以及VGS在t2～t3之间的导通波形，其中，VDS采样到示波器的CH1通道，ID取样到示波器的CH2通道，VGS采样到示波器的CH3通 道，示波器通过光通讯方式将测试波形传输给计算机，由计算机对测试波形进行分析与计算，最后显示测试结果。