一种用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台

2026-04-28 18:16:44

　　(72)发明人请求不公布姓名**(74)专利代理机构武汉华之喻知识产权代理有

　　1.一种用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台，其特征在于，该自动化双脉冲测

　　所述自动化测试单元包括MCU控制模块、DAC模块、数据采集模块和数据存储模块，所述

　　MCU控制模块通过DAC模块与双脉冲测试单元连接，以将MCU控制模块输出的数字电压转化

　　为模拟值，并根据其驱动该双脉冲测试单元进行测试；所述数据采集模块与双脉冲测试单

　　元和MCU控制模块连接，以实现测试数据的采集；所述数据存储模块与MCU控制模块连接，用

　　所述控制单元与MCU控制模块连接，用于对其进行控制并获取测试数据，以此实现自动

　　2.如权利要求1所述的用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台，其特征在于，隔离

　　单元包括驱动隔离模块和信号隔离模块，所述驱动隔离模块设置在DAC模块与双脉冲测试

　　3.如权利要求1所述的用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台，其特征在于，所述

　　自动化双脉冲测试平台还包括无线数据传输单元，所述无线数据传输单元设置在控制单元

　　和自动化测试单元之间，用于对控制信号和测试数据进行无线所述的用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台，其特征在于，所述

　　控制单元包括第一无线传输模块和控制模块，同时所述无线数据传输单元包括第二无线传

　　输模块，其中：所述控制模块与第一无线传输模块连接，所述第二无线传输模块设置在MCU

　　控制模块与第一无线任一项所述的用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台，其特征

　　6.如权利要求1～4任一项所述的用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台，其特征

　　7.如权利要求2所述的用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台，其特征在于，所述

　　本实用新型属于双脉冲测试领域，更具体地，涉及一种用于碳化硅MOSFET的自动

　　碳化硅MOSFET(金属‑氧化物半导体场效应晶体管)是电力电子设备的关键组成部

　　分，与硅材料相比碳化硅材料较高的热导率决定了其高电流密度的特性，适用于更高的工

　　作频率，同时还具有较高的高温稳定性。通常，对于碳化硅MOSFET通常使用双脉冲方式进行

　　在对碳化硅MOSFET进行双脉冲测试时，为了获得较为详细的测试参数，需要对驱

　　动电压、上下管的开通时间，即两个脉冲的宽度以及间隔时间进行调整，这样在测试过程中

　　就需要不断对输入信号进行调整。同时，在测试过程中，还需要对驱动电压、回路电流等各

　　种参数进行监视，以便对器件性能进行分析。现有技术中，对碳化硅MOSDET进行双脉冲测试

　　时，整个过程需要不断利用人工对参数进行调节，每次测试完毕存储数据后，则需要人工调

　　针对现有技术的缺陷，本实用新型的目的在于提供一种用于碳化硅MOSFET的自动

　　化双脉冲测试平台，旨在解决现有的双脉冲测试平台人工参与度高、效率低下的问题。

　　为实现上述目的，本实用新型提供了一种用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试

　　平台，该自动化双脉冲测试平台包括双脉冲测试单元、自动化测试单元、隔离单元和控制单

　　所述自动化测试单元包括MCU控制模块、DAC模块、数据采集模块和数据存储模块，

　　所述MCU控制模块通过DAC模块与双脉冲测试单元连接，以将MCU控制模块输出的数字电压

　　转化为模拟值，并根据其驱动该双脉冲测试单元进行测试；所述数据采集模块与双脉冲测

　　试单元和MCU控制模块连接，以实现测试数据的采集；所述数据存储模块与MCU控制模块连

　　所述控制单元与MCU控制模块连接，用于对其进行控制并获取测试数据，以此实现

　　隔离模块设置在DAC模块与双脉冲测试单元之间，所述信号隔离模块设置在双脉冲测试单

　　无线数据传输单元设置在控制单元和自动化测试单元之间，用于对控制信号和测试数据进

　　无线数据传输单元包括第二无线传输模块，其中：所述控制模块与第一无线传输模块连接，

　　1 .本实用新型与传统双脉冲平台相比，增加了自动化测试单元和控制单元，其中

　　控制单元可以根据测试需求对控制信号的脉宽和间隔时间进行设置，MCU接收到控制信号

　　后经过解析后，生成相应的控制指令并驱动双脉冲测试单元进行测试，从而在自动化测试

　　逻辑的控制下，实现输入参数等步长的自动化调节，同时数据采集模块和数据存储模块对

　　测试数据进行实时采集和存储，有效简化了测试流程，极大地提高了双脉冲测试效率；

　　2.同时，本实用新型通过设置无线数据传输单元，使得控制系统和MCU控制模块通

　　过无线传输系统进行通信，从而实现对整个测试平台的远程控制和远程数据读取。

　　图1是本实用新型实施例提供的用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台的结

　　例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释

　　如图1所示，本实用新型提供了一种用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台，

　　该自动化双脉冲测试平台包括双脉冲测试单元、自动化测试单元、隔离单元和控制单元，其

　　自动化测试单元包括MCU控制模块、DAC模块、数据采集模块和数据存储模块，MCU

　　控制模块通过DAC模块与双脉冲测试单元连接，以将MCU控制模块输出的数字电压转化为模

　　拟值，并根据其驱动该双脉冲测试单元进行测试，从而实现对阈值电压的高精度调整，获取

　　更为详细的器件特性参数；数据采集模块与双脉冲测试单元和MCU控制模块连接，以此实现

　　测试数据的采集；数据存储模块与MCU控制模块连接，用于将采集的测试数据进行存储；

　　元的高电压，其包括驱动隔离模块和信号隔离模块，驱动隔离模块设置在DAC模块与双脉冲

　　控制单元与MCU控制模块连接，用于对其进行控制并获取测试数据，以此实现自动

　　化测试，其可根据测试的需求对控制信号的脉宽以及间隔时间进行设置，MCU控制模块接收

　　到控制信号后对脉宽及两个脉冲的间隔时间等信息进行解读后，生成两个相应的脉宽及间

　　隔时间的脉冲，以完成测试，同时该控制单元还可以通过MCU控制模块实时获取测试数据。

　　本实用新型提供的用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试平台通过控制单元与

　　自动化测试单元相互作用，实现了输入信号的自动调节，同时实现了对各种输出参数的实

　　置在控制单元和自动化测试单元之间，用于对控制信号和测试数据进行无线传输。控制单

　　元包括第一无线传输模块和控制模块，同时无线数据传输单元包括第二无线传输模块，控

　　制模块与第一无线传输模块连接，第二无线传输模块设置在MCU控制模块与第一无线传输

　　模块之间。工作时，控制模块通过第一无线传输模块和第二无线传输模块向MCU控制模块发

　　送相应的控制指令，MCU控制模块将接收到的指令解析后进行执行。例如，MCU控制模块收到

　　读取数据指令后，MCU控制模块从数据存储模块中读取数据后，通过第二无线传输模块和第

　　进一步，MCU控制模块为STM32F429及其外围电路，DAC模块为DAC7512及其附属电

　　用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改